蔡司是全球領(lǐng)先的能在實(shí)驗(yàn)室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術(shù)外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運(yùn)用了改裝自同步加速器的先進(jìn)光學(xué)器件，用以為研究提供業(yè)界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統(tǒng)成像工作流程中加入關(guān)鍵的無損分析步驟，從而讓這款創(chuàng)新型儀器實(shí)現(xiàn)了研究領(lǐng)域的突破。
  蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進(jìn)行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術(shù)來優(yōu)化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復(fù)合材料、燃料電池、地質(zhì)樣品及生物材料等。在先進(jìn)的同步加速器實(shí)驗(yàn)室內(nèi)首次引入納米級(jí) X 射線成像技術(shù)，蔡司 XRM 開創(chuàng)性解決方案始終讓您走在科學(xué)研究的前列。